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產(chǎn)品分類
經(jīng)濟(jì)型恒流電壓降測(cè)試儀器采用恒流源系統(tǒng)，本機(jī)型分為交流機(jī)型和直流機(jī)型兩款，參照標(biāo)準(zhǔn)對(duì)接插件及電線束類產(chǎn)品的測(cè)試要求，也適用于具有類似特性之產(chǎn)品壓降的檢測(cè)，數(shù)顯壓降表，數(shù)顯電流表.
更新時(shí)間：2025-02-10
產(chǎn)品型號(hào)：BX-Y1240
瀏覽量：403
半自動(dòng)四探針觸屏測(cè)試儀器晶圓、非晶硅/微晶硅和導(dǎo)電膜電阻率測(cè)量；選擇性發(fā)射極擴(kuò)散片；表面鈍化片；交叉指樣PN結(jié)擴(kuò)散片；新型電極設(shè)計(jì)，如電鍍銅電阻測(cè)量等；半導(dǎo)體材料分析，鐵電材料，納米材料，太陽(yáng)能電池，LCD，OLED，觸摸屏等.
更新時(shí)間：2025-02-10產(chǎn)品型號(hào)：BX-Y1228B瀏覽量：411
半自動(dòng)四探針觸屏測(cè)試儀器晶圓、非晶硅/微晶硅和導(dǎo)電膜電阻率測(cè)量；選擇性發(fā)射極擴(kuò)散片；表面鈍化片；交叉指樣PN結(jié)擴(kuò)散片；新型電極設(shè)計(jì)，如電鍍銅電阻測(cè)量等；半導(dǎo)體材料分析，鐵電材料，納米材料，太陽(yáng)能電池，LCD，OLED，觸摸屏等.
更新時(shí)間：2025-02-10產(chǎn)品型號(hào)：BX-Y1228A瀏覽量：449
半自動(dòng)觸屏四探針測(cè)試儀器晶圓、非晶硅/微晶硅和導(dǎo)電膜電阻率測(cè)量；選擇性發(fā)射極擴(kuò)散片；表面鈍化片；交叉指樣PN結(jié)擴(kuò)散片；新型電極設(shè)計(jì)，如電鍍銅電阻測(cè)量等；半導(dǎo)體材料分析，鐵電材料，納米材料，太陽(yáng)能電池，LCD，OLED，觸摸屏等.
更新時(shí)間：2025-02-10產(chǎn)品型號(hào)：BX-Y1228瀏覽量：424
全自動(dòng)四探針電阻測(cè)試儀器晶圓、非晶硅/微晶硅和導(dǎo)電膜電阻率測(cè)量；選擇性發(fā)射極擴(kuò)散片；表面鈍化片；交叉指樣PN結(jié)擴(kuò)散片；新型電極設(shè)計(jì)，如電鍍銅電阻測(cè)量等；半導(dǎo)體材料分析，鐵電材料，納米材料，太陽(yáng)能電池，LCD，OLED，觸摸屏等.
更新時(shí)間：2025-02-10產(chǎn)品型號(hào)：BX-Y1227A瀏覽量：391
全自動(dòng)四探針電阻測(cè)量測(cè)試儀器四點(diǎn)探針?lè)?，全自?dòng)化運(yùn)行測(cè)量系統(tǒng)，PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理；參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)方法測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率和方塊電阻；可設(shè)定探針壓力值、測(cè)試點(diǎn)數(shù)、多種測(cè)量模式選擇；真空環(huán)境，可顯示：方阻、電阻率、顯示2D,3D掃描/數(shù)值圖、溫濕度值、提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻件.報(bào)表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析.
更新時(shí)間：2025-02-10產(chǎn)品型號(hào)：BX-Y1227瀏覽量：514
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