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冠層分析儀
更新時(shí)間：2019-02-22
訪問次數(shù)：1803
冠層分析儀可測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射（PAR）等
| 品牌 | 聚創(chuàng)環(huán)保 | 儀器類型 | 便攜式 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器原理 | 其它原理 |
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
一、概述
植物冠層分析儀*300可測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射（PAR）等。廣泛應(yīng)用于作物、植物群體冠層受光狀況的測量分析以及農(nóng)林業(yè)科研工作。
二、用途
葉面積指數(shù)（LAI）與植物冠層吸收的光合有效輻射分量(FPAR)是在生態(tài)學(xué)與氣候?qū)W中是重要的生物物理參數(shù)。這些參數(shù)在生態(tài)學(xué)及氣候?qū)W領(lǐng)域中有著廣泛的應(yīng)用。TRAC植物冠層分析儀采用*的創(chuàng)新技術(shù)，在冠層下方沿著橫斷面測定植物冠層吸收的光合有效輻射分量，然后將之轉(zhuǎn)換為林隙比例分布，從而計(jì)算出葉面積指數(shù)等其它參數(shù)。
折疊功能特點(diǎn)
1.無損測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角以及冠層結(jié)構(gòu)
2.探頭體積小巧，裝在測杠上可任意角度測量植物冠層結(jié)構(gòu)。
3.攝像頭可自動(dòng)保持水平。
4.USB接口，測量時(shí)連接電腦實(shí)時(shí)查看圖像，即時(shí)選取所需圖像并保存。
5.外接大容量鋰電池，適用于野外工作和長時(shí)間測量。
6.測量冠層不同高度，可得到群體內(nèi)光透過率和葉面積指數(shù)垂直分布圖。
7.配有分析軟件，有選擇所需圖像區(qū)域的功能(天頂角可分10區(qū)，方位角可分10區(qū))，可屏蔽不合理的冠層部分，僅對(duì)有效圖像區(qū)域進(jìn)行分析，使測量數(shù)據(jù)更加精確。
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