四探針液晶顯示電阻率測試儀雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計(jì)參考國標(biāo)單晶硅物理測試方法及A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響.

產(chǎn)品型號：BX-Y1218A

更新時(shí)間：2025-02-09

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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PRODUCT CLASSIFICATION

電工儀表

靜電測試儀其它電工儀表交直流電源阻抗測試儀電力行業(yè)發(fā)生器測高儀變壓器測試儀電容電感測試儀諧波分析儀電力質(zhì)量分析儀繼電保護(hù)測試儀絕緣子測試儀伏安表頻率表周波表指示儀相序表電流表電流測定儀電纜故障測試電壓電阻測試儀

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關(guān)鍵詞：四探針液晶顯示電阻率測試儀

電阻率測試儀系統(tǒng) 四探針電阻率測試儀導(dǎo)體電阻率測試儀高精度電阻率測試儀表面體積電阻率測試儀

產(chǎn)品用途：

覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，EMI防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等，提供中文或英文兩種語言操作界面選擇.

儀器特點(diǎn)：

四探針液晶顯示電阻率測試儀采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動(dòng)測量，自動(dòng)量程，自動(dòng)系數(shù)補(bǔ)償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：PC軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和處理.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計(jì)參考國標(biāo)單晶硅物理測試方法及A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響.

技術(shù)參數(shù)：

1.方塊電阻 10^-5～2×10^5Ω/□

2.電阻率 10^-6～2×10^6Ω-cm

3.測試電流 0.1μA.μA.0μA，100μA，1mA，10mA，100mA

4.電流精度 ±0.1%

5.電阻精度 ≤0.3%

6.顯示讀數(shù) 屏液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率

7.測試方式雙電測量

8.電源輸入:AC220V±10%.50Hz功耗：<30W

9.誤差 ≤3%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）

10.選購功能選購1.pc軟件；選購2.方形探頭；選購3.直線形探頭；選購4.測試平臺(tái)；5.標(biāo)準(zhǔn)電阻.

11.測試探頭探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格;探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針